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硅片抗弯强度测试方法(GB/T15615-1995)
硅片抗弯强度测试方法(GB/T15615-1995)标准号：GB/T 15615-1995标准名称：硅片抗弯强度测试方法……
http://www.samsco.com.cn/info/65515.htm

硅片氧沉淀特性的测定—间隙氧含量减少法;中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会(GB/T19444-2004)
硅片氧沉淀特性的测定—间隙氧含量减少法;中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会(GB/T19444-2004)标准号：GB/T 19444-2004标准名称：硅片氧沉淀特性的测定—间隙氧含量减少法; 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会……
http://www.samsco.com.cn/info/62615.htm

硅片清洗机
硅片清洗机产品描述：全自动硅片清洗机 1．概述：本设备用于2″~8″硅片的规模生产，产品一致性好，技术先进。 ⑴整机采用德国进口磁白色PP板焊接而成，本机每槽可同时清洗2个花篮。本设备外型美观，耐酸性能好，操作方便，运行可靠，是半导体生产线理想的硅片清洗设备。 ⑵本设备由机架部分、整机部分、槽体部分、伺服系统、及机械传动部分、电气控制系统构成。 ⑶工艺过程全自动，机械手在槽间转换靠PLC来控制，美……
http://www.samsco.com.cn/info/19435.htm

硅片直径测量方法光学投影法(GB/T14140.1-1993)
硅片直径测量方法光学投影法(GB/T14140.1-1993)标准号：GB/T 14140.1-1993标准名称：硅片直径测量方法光学投影法……
http://www.samsco.com.cn/info/50719.htm

硅片直径测量方法千分尺法(GB/T14140.2-1993)
硅片直径测量方法千分尺法(GB/T14140.2-1993)标准号：GB/T 14140.2-1993标准名称：硅片直径测量方法千分尺法……
http://www.samsco.com.cn/info/50720.htm

300-900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法(GB/T14143-1993)
300-900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法(GB/T14143-1993)标准号：GB/T 14143-1993标准名称：300-900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法……
http://www.samsco.com.cn/info/50723.htm

硅片参考面结晶学取向X射线测量方法(GB/T13388-1992)
硅片参考面结晶学取向X射线测量方法(GB/T13388-1992)标准号：GB/T 13388-1992标准名称：硅片参考面结晶学取向X射线测量方法……
http://www.samsco.com.cn/info/50930.htm

硅片径向电阻率变化的测量方法(GB/T11073-1989)
硅片径向电阻率变化的测量方法(GB/T11073-1989)标准号：GB/T 11073-1989标准名称：硅片径向电阻率变化的测量方法……
http://www.samsco.com.cn/info/52029.htm

硅片翘曲度非接触式测试方法;国家技术监督局(GB/T6520-1995)
硅片翘曲度非接触式测试方法;国家技术监督局(GB/T6520-1995)标准号：GB/T 6520-1995标准名称：硅片翘曲度非接触式测试方法; 国家技术监督局……
http://www.samsco.com.cn/info/60141.htm

硅片弯曲度测试方法(GB/T6619-1995)
硅片弯曲度测试方法(GB/T6619-1995)标准号：GB/T 6619-1995标准名称：硅片弯曲度测试方法……
http://www.samsco.com.cn/info/60203.htm

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